一、项目成果简介

            (1)完成控制器模块、微波发射模块以及谐振腔体设计；

   (2)完成微波无损探测分析仪上位机系统设计，其中包含参数设置、幅值和相位曲线显示以及数据保存功能;

            (3)完成微波无损探测分析仪系统硬件搭建，软件调试。

图1:控制器

图2:微波锁相环

图3:谐振腔体

图4:微波无损探测分析仪上位机

图5: 微波无损探测分析仪

  二、性能指标

   微波无损探测仪探测频率范围：2.5G-11.5G;

   微波无损探测仪探测谷物种类：面粉、大米粉、苏打粉;

   微波无损探测仪探测精度：检测面粉中掺杂滑石粉的含量。

  三、适用范围、市场前景

           (1)适用范围

   适用于颜色相近，无法直观的靠肉眼区别的谷物种类探测；

   适用于检测谷物种类掺杂杂质含量。

           (2)市场前景

 小麦、稻谷等谷物加工类产品的品质安全，关系到国民身心健康，故对谷物品质安全的高效检测显得尤为重要。传统的感观法依靠经验，准确性较差；X 衍射法耗时长且X射线对人体有辐射；采用化学计量分析法虽然准确有效，但分析时间长，效率较低；近红外技术准确性高，但近红外波抗干扰性和穿透性较差，预处理复杂。故急需一种行之有效的检测方法来保证谷物食用品质安全，本课题采用的自由空间传输反射法在谷物探测邻域既有广泛运用前景。

  四、投资概算

   投资概算：100万。

  五、合作方式

    合作方式：转让、转让加提成、合作生产。